Выступление профессора Шалумова на конференции «ЭМС-2022»

03.07.2022
Выступление профессора Шалумова на конференции «ЭМС-2022»
Тема доклада: «Комплексное компьютерное моделирование РЭА на электромагнитные, тепловые, механические воздействия в российской САПР АСОНИКА. Национальная стандартизация моделирования в ТК 165 «САПР ЭЛЕКТРОНИКИ».

9 июня 2022 г. генеральный директор ООО «НИИ «АСОНИКА», председатель технического комитета Росстандарта по стандартизации ТК 165 «Системы автоматизированного проектирования электроники», профессор Шалумов Александр Славович выступил на XI Всероссийской научно-технической конференции «ЭМС-2022» с докладом на тему «Комплексное компьютерное моделирование РЭА на электромагнитные, тепловые, механические воздействия в российской САПР АСОНИКА. Национальная стандартизация моделирования в ТК 165 «САПР ЭЛЕКТРОНИКИ».

В своем докладе профессор Шалумов подробно рассмотрел технологию комплексного компьютерного моделирования и виртуализации испытаний РЭА с применением CALS-технологий.

Статистика последних сорока лет показывает, что там, где используется система АСОНИКА, катастрофических отказов электроники нет; там, где есть катастрофические отказы, не используется система АСОНИКА.

Электроника широко применяется в большинстве объектов различных отраслей. К сожалению, в мире участились аварии, связанные со сбоями в работе электроники. Создаваемая без сквозного автоматизированного проектирования и без применения комплексного моделирования, она обречена на низкую надежность и отказы в процессе эксплуатации.

На сегодняшний день высокую значимость приобрел вопрос стандартизации САПР и виртуальных испытаний электроники — РЭА и ЭКБ, составляющих основу цифровых двойников электроники.

В практической части конференции профессор Шалумов продемонстрировал примеры виртуальных испытаний РЭА на электромагнитные, тепловые, механические воздействия в российской САПР АСОНИКА в соответствии с ГОСТ Р 60.0.7.2-2020, разработанным ООО «НИИ «АСОНИКА».

Доклад профессора Шалумова и система АСОНИКА вызвали большой интерес у участников конференции.

Похожие статьи